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http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/9097| Título : | Structural studies of ZnS thin films grown on GaAs by RF magnetron sputtering |
| Autor : | Rojas López, Marlon |
| Palabras clave : | Sputtering |
| Fecha de publicación : | 17-dic-2012 |
| Resumen : | X-ray diffraction (XRD) studies of ZnS thin films grown on GaAs (001) substrates at different temperatures by rf magnetron sputtering have been carried out using CuKa radiation. XRD analysis reveals that deposited films below 335 C, assumed the zinc blend structure. Samples annealed at above 335 C showed mixed phases of the zinc blend and wurzite structures. Information about crystallite size is obtained from (001), (111) and (104) diffraction peaks. The average crystallite size of the film was determined to be w 32 nm using the Scherrer formula. 2009 Elsevier Ltd. All rights reserved. |
| Descripción : | Article |
| URI : | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/9097 |
| Aparece en las colecciones: | Artículos |
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