El Instituto Politécnico Nacional
Contribuye al desarrollo económico y social de la nación, a través de la formación integral de personas competentes; de la investigación, el desarrollo tecnológico y la innovación. Además tiene reconocimiento internacional por su calidad e impacto social.
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11525Registro completo de metadatos
| Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
|---|---|---|
| dc.creator | Dominguez Dominguez, R. | - |
| dc.creator | Guevara Mendoza, J. | - |
| dc.creator | Aguilar Frutis, M. A. | - |
| dc.date | 2012-03-29T01:42:28Z | - |
| dc.date | 2012-03-29T01:42:28Z | - |
| dc.date | 2009-06 | - |
| dc.date.accessioned | 2013-01-16T16:00:56Z | - |
| dc.date.available | 2013-01-16T16:00:56Z | - |
| dc.date.issued | 2013-01-16 | - |
| dc.identifier | 978-607-414-131-3 | - |
| dc.identifier | http://hdl.handle.net/123456789/1078 | - |
| dc.identifier.uri | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11525 | - |
| dc.description | Se llevaron a cabo mediciones eléctricas en películas de oxido de hafnio, mediante la técnica espectroscopia de impedancias, en configuración de sándwich. Las películas fueron sintetizadas utilizando la técnica de rocío pirolitico ultrasónico a temperaturas de depósito en el rango de 400 a 500 oC. La Espectroscopia de Impedancias es una técnica de caracterización de propiedades eléctricas, que logra destacar las propiedades granulares e intergranulares del material. Estas mediciones pueden ser representadas por un circuito equivalente RC, para simular el comportamiento eléctrico del sistema. En los diagramas de impedancia compleja Z* generalmente se forman semicírculos, en los cuales es posible obtener los valores de R y C para cada semicírculo, mediante la expresión ω��������������������������������������maxRC=1, dichos valores son respuesta de las características microestructurales del material. En los espectros de impedancia y módulos ( Z» y M» vs ω) se destaca la formación de picos de Debye, que coinciden en frecuencia y con un ancho ligeramente mayor a 1.14 decadas, lo cuál se interpreta como un proceso de relajación. | - |
| dc.description | Articulo en extenso en memoria de simposio | - |
| dc.description | Instituto Politecnico Nacional. CONACYT | - |
| dc.language | es | - |
| dc.publisher | Instituto Politecnico Nacional | - |
| dc.subject | oxido de hafnio | - |
| dc.subject | peliculas delgadas | - |
| dc.title | Caracterización eléctrica de películas de oxido de hafnio por espectroscopia de impedancias | - |
| dc.type | Article | - |
| Aparece en las colecciones: | Doctorado | |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| libro3sta_39.pdf | 253.39 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Los ítems de DSpace están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.