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http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/17559
Registro completo de metadatos
Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
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dc.contributor.advisor | CIECAS | - |
dc.contributor.author | De Hoyos, Adalberto | - |
dc.date.accessioned | 2014-01-21T18:21:59Z | - |
dc.date.available | 2014-01-21T18:21:59Z | - |
dc.date.issued | 2014-01-27 | - |
dc.identifier.uri | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/17559 | - |
dc.description.abstract | La producción científica y tecnológica en las universidades y centros de investigación está siendo medida a través de patentes.Aquí se analiza cómo las prácticas científicas tienen elementos tácitos y explícitos que han cambiado sustancialmente la forma en que se registra y difunde el conocimiento a través de los documentos de patente. | es |
dc.description.sponsorship | Instituto Politécnico Nacional. CIECAS | es |
dc.language.iso | es | es |
dc.publisher | Centro de Investigaciones Económicas, Administrativas y Sociales (CIECAS) - IPN | es |
dc.subject | científica | es |
dc.subject | tecnológica | es |
dc.title | Rasgos Epistemológicos del documento de Patente | es |
dc.type | Other | es |
dc.description.especialidad | Encuentro CIECAS con Investigadores | es |
dc.description.tipo | png | es |
Aparece en las colecciones: | Trípticos |
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Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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