MEDICIONES ELÉCTRICAS EN PELÍCULAS DELGADAS DE INTERÉS FOTOVOLTAICO POR EL MÉTODO DE 4 PUNTAS

Abstract

La caracterización eléctrica es uno de los principales y más importantes procesos por los cuales deben de pasar los materiales semiconductores en película delgada La Resistividad, es una propiedad intrínseca de estos materiales y es importante su correcta medición, sin embargo con los métodos o técnicas convencionales de medición llega a haber errores en este proceso y aún más en los materiales semiconductores de película delgada, debido a que su resistencia es muy baja, la resistividad que opone el cableado afecta considerablemente a la obtención de una lectura correcta. El método de cuatro puntos o FPM (Four-Point Method) por sus siglas en inglés, contrarresta este error de medición al enfocarse en obtener la resistencia de manera indirecta haciendo uso de un electrómetro, aparato diseñado especialmente para aplicar una pequeña corriente constante a la muestra, a través de dos conductores o puntos, y medir un voltaje por medio de otros dos conductores o puntos, obteniendo así las cuatro puntos motivo por el cual el método es nombrado. En este trabajo se presenta un prototipo para la medición de las propiedades eléctricas macroscópicas de muestras crecidas sobre sustratos de 1 cm2 como pueden ser óxidos y celdas solares y la propuesta de un circuito que se tomará como base para realizar un sistema completo que mide los materiales semiconductores en película delgada preparados en el Laboratorio de Materiales Fotovoltaicos del CICATA Altamira, como por ejemplo CdS, CdTe, CuInSe2, CdSe, ZnO, ZnO:Al, Grafeno y derivados. Financiado por CONACYT 151679, SIP 20144613 y MICINN-CTQ2012-36090. IDP agradece financiamiento de MICINN-RyC y APA agradece beca FPU.