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Registro completo de metadatos
Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.creatorZapata, Martin-
dc.creatorPena, Juan Luis-
dc.creatorCalzadilla, Octavio-
dc.creatorCastro, Roman-
dc.creatorMelendez, Miguel-
dc.date2012-03-27T00:15:33Z-
dc.date2012-03-27T00:15:33Z-
dc.date2003-03-12-
dc.date.accessioned2013-01-16T11:30:51Z-
dc.date.available2013-01-16T11:30:51Z-
dc.date.issued2013-01-16-
dc.identifierSuperficies y Vacío. Vol. 16, pag. 40-44 (2003)-
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/123456789/482-
dc.identifier.urihttp://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10973-
dc.descriptionCONACYT, Instituto Politecnico Nacional-
dc.languagees-
dc.publisherSociedad mexicana de Ciencia de Superficies y de Vacio-
dc.subjectCdSTe-
dc.subjectrayos-X-
dc.titleCaracterización por difracción de rayos-X de películas delgadas de CdSxTe1-x-
dc.typeArticle-
Aparece en las colecciones: Doctorado

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