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http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10973| Título : | Caracterización por difracción de rayos-X de películas delgadas de CdSxTe1-x |
| Palabras clave : | CdSTe rayos-X |
| Fecha de publicación : | 16-ene-2013 |
| Editorial : | Sociedad mexicana de Ciencia de Superficies y de Vacio |
| Descripción : | CONACYT, Instituto Politecnico Nacional |
| URI : | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10973 |
| Otros identificadores : | Superficies y Vacío. Vol. 16, pag. 40-44 (2003) http://hdl.handle.net/123456789/482 |
| Aparece en las colecciones: | Doctorado |
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